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模拟集成电路可靠性技术探讨

引用
高性能模拟集成电路产品需要复杂的工艺来实现高速、低噪声、高精度等要求,这些复杂性给各种技术都带来了严峻的可靠性考验.重点阐述了通用IC工艺器件的可靠性机理和面临的可靠性挑战.为了满足更广领域IC的可靠性需求,深入研究器件的可靠性特性与传统的工艺可靠性保证条件同样重要.

模拟集成电路、混合信号集成电路、可靠性

41

TN43(微电子学、集成电路(IC))

2011-11-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

456-460

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

41

2011,41(3)

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