集成电路测试数据的处理
简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原始数据进行比较合理的处理;使测试值与被测集成电路的性能真值更加接近,避免对电路合格与否做出误判,从而使检验工作更加准确无误.
集成电路测试、临界数据、异常数据、测量误差、数据处理
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TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2010-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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