复用NoC测试IP芯核测试存取链优化配置
论述了层次型IP芯核不同测试模式之间的约束关系,给出了层次型IP芯核的测试壳结构,提出了一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的启发式测试存取链优化配置方法.该方法可有效减小测试数据分组数量和被测芯核的测试时间.使用片上网络测试平台,在测试基准电路集ITC'02中的基准电路p22810上进行了实验验证.
微系统芯片、片上网络、层次型IP芯核、测试壳、测试存取链配置
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TN407(微电子学、集成电路（IC）)
国家高技术研究发展863计划基金资助项目2006AA06Z222;教育部新世纪优秀人才支持计划资助项目NCET-05-0804;国家建设高水平大学公派研究生项目资助
2010-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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