高速数字电路相位噪声测试研究
对高速数字电路相位噪声测试技术进行了探索.利用直接频谱仪法、鉴相器法、鉴频器法等相位噪声测试方法,通过阻抗匹配等合理的测试设计,开发出测试系统,对高速数字电路相位噪声进行了测试研究,获得了准确的测试数据,有效地表征了电路实际性能.
数字电路、相位噪声、鉴相器、鉴频器、阻抗匹配
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TN707;TN79(基本电子电路)
模拟集成电路国家级重点实验室基金资助项目9140A08020207DZ3401
2009-07-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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