一种基于存储器故障原语的March测试算法研究
研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义.从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法.该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%.采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST).仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求.研究结果具有重要的应用参考价值.
March算法、存储器、内建自测试电路、故障测试、故障原语
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TN47(微电子学、集成电路(IC))
教育部科学技术重点项目03151
2009-05-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
251-255,279