一种快速精确查找逻辑电路失效位置的方法
提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法.这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义.这种方法是通过对电路失效原理的分析,以及对失效概率的估计,来查找组合电路的失效位置.整个查找过程在Matlab平台上实现,用ISCAS'85基准电路进行实验,所有电路均采用0.18 μm标准CMOS工艺.结果表明,相对HSPICE随机仿真的方法,这种方法的速度提高了将近49倍,而且准确率达到94.7%.
单粒子瞬态、软错误率、位翻转概率、错误传播概率、组合逻辑
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TP331.1+3(计算技术、计算机技术)
2008-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
353-357
