具备兼容性和层次性的SOC测试控制结构设计
IP核的集成问题是SOC设计的关键,测试集成更是无法回避的难题.因此,灵活高效的测试控制结构成为SOC可测性设计的重要研究内容.文章分析了IEEE Std 1149.1对传统IC芯片内部和外部测试的整体控制能力;剖析了IEEE Std 1500TM对嵌入式IP核测试所做规定的标准性和可配置性.在此基础上,提出了一种复用芯片级测试控制器的测试控制结构,该结构能兼容不同类型的IP核,并且有助于实现复杂SOC的层次性测试控制.
SOC、测试控制结构、IEEE Std 1500、边界扫描
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TN432(微电子学、集成电路（IC）)
2008-06-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
222-225,240
