D/A转换器抗辐射加固技术研究
介绍了一种16位D/A转换器抗辐射加固设计和工艺技术.主要从系统结构加固设计、关键单元加固设计和工艺加固技术等方面进行了阐述;重点对BiCMOS加固工艺的器件结构设计原理进行了详细阐述,给出了器件仿真数据和实验结果;最后,对辐照试验进行了分析.采用该加固工艺研制的16位D/A转换器实现了转换速率大于30 MSPS,建立时间小于50 ns,线性误差和微分误差均小于±8 LSB等性能指标;其抗中子辐射水平为5×1013n/cm2,抗γ总剂量辐射水平达5.0×103 Gy(Si).
D/A转换器、γ总剂量辐射、抗辐射加固
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TN79+2(基本电子电路)
国家重点实验室基金9140C0904050704
2008-06-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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