10.3969/j.issn.1004-3365.2005.02.002
射频集成电路测试技术研究
射频集成电路(RF IC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RF IC的性能具有相当的难度.文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RF IC典型参数,如S参数、带宽、P1dB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法,并对影响RF IC性能测试的主要因素进行了分析.最后,给出了一种LNA电路的测试结果.
射频集成电路、低噪声放大器、微带线、阻抗匹配、集成电路测试
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TN722.3(基本电子电路)
2005-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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