10.3969/j.issn.1004-3365.2004.04.021
CMOS IC漏极静态电流测试技术的现状与发展
全面介绍了CMOS集成电路漏极静态电流(IDDQ)测试技术的现状、应用及其发展趋势.与其它主要用于检测逻辑功能的测试技术不同,IDDQ主要用于检测电路的物理缺陷和工艺故障.作为逻辑功能测试的重要补充,IDDQ技术可提高集成电路的可测性和故障履盖率,保证集成电路的可靠性.
CMOS集成电路、故障检测、电路测试、可测试性设计
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TN432(微电子学、集成电路（IC）)
北京市重点实验室基金KF200209
2004-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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