10.3969/j.issn.1004-3365.2004.03.005
SOC设计方法学和可测试性设计研究进展
随着微电子工艺技术和设计方法的发展,系统级芯片(SOC)设计成为解决日益增长的设计复杂度的主要方法.文章概述了SOC设计方法学和SOC可测试性设计的发展现状,阐述了目前SOC测试存在的和需要解决的问题,描述了目前开发的各种SOC测试结构和测试策略.最后,提出了今后进一步研究的方向.
系统芯片、设计复用、可测试性设计、测试访问机制、内建自测试
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TN402;TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2004-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
235-240
