期刊专题

10.3969/j.issn.1004-3365.2003.05.018

MOSFET的热载流子效应及其表征技术

引用
介绍了热载流子引起MOS器件退化的机制及其退化模型、最大应力模式和典型的寿命预测模型等,并对器件退化的表征技术进行了概述.

可靠性、热载流子效应、MOS场效应晶体管、寿命预测模型、表征技术

33

TN386(半导体技术)

国家科技攻关项目G2000-036503

2004-04-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

432-438

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

33

2003,33(5)

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