10.3969/j.issn.1004-3365.2003.02.011
集成电路内部水汽含量的控制
简要叙述了集成电路封装内部水汽的形成;指出集成电路封装内部水汽主要是由封装环境气氛中的水份以及封装管壳和芯片表面吸附的水汽所造成的;论述了内部水汽引起集成电路电性能的退化,从而影响集成电路的可靠性.并介绍了纯氮气气氛保护封装、增加红外烘烤等控制集成电路内部水汽含量的措施.
集成电路、封装、可靠性
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TN305.94(半导体技术)
2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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