10.3969/j.issn.1004-3365.2002.06.009
非"均衡布线"对VLSI可靠性的影响
在VLSI的制造过程中,常常由于设计中布线的不均衡,导致芯片性能不稳定或者失效.文章根据一些工艺生产线上的实践,提出了"均衡布线"的概念,并且在集成电路设计、工艺等方面,提出了在非"均衡布线"时影响电路可靠性的一些主要因素(负载效应、应力迁移、电迁移、串扰等)及相应的解决措施.
VLSI、可靠性、均衡布线、负载效应、应力迁移、电迁移
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TN47(微电子学、集成电路(IC))
2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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