10.3969/j.issn.1004-3365.2002.05.001
模拟集成电路模块生成系统的电气性能研究
文章对模拟集成电路模块生成系统的电气性能进行了系统研究,如MOS晶体管失配量、栅极RC常数、寄生电容及路径载流等.并将各电气参数的估算值与具体应用相结合,控制不同限制条件及应用背景下的模块生成,增强电路设计的可靠性.采用该电气性能驱动的模块生成系统,已经辅助设计出多个高性能集成运算放大器、模拟开关等芯片版图.
电气性能、模块生成系统、模拟集成电路
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TP391.72;TN431.1(计算技术、计算机技术)
德国撒克森-安亥州和西门子公司资助项目
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
321-324，329
