10.3969/j.issn.1004-3365.2002.03.011
一种超前进位加法器的新颖BIST架构
针对超前进位加法器(CLA),提出了一种高效的BIST架构.这种新的架构结合了确定性测试和伪随机测试的优点,并避免了各自的短处.同时,还提出了一个测试向量集,并充分利用了CLA加法器内部结构的规整性,向量集规模较小,便于片内集成.最后,提出了一种计算特征值的新方法.
内置自测试、超前进位加法器、确定性测试、伪随机测试、可测性设计
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TN772;TN407(基本电子电路)
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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