10.3969/j.issn.1004-3365.2002.03.009
全扫描结构可测性设计方法的研究
探讨了在Synopsys软件中用全扫描结构实现数字电路可测性设计中遇到的问题及解决方法,如扫描结构的基本结构、测试的时序等问题.扫描结构对电路本身的结构有严格的要求,重点讨论了扫描结构对电路结构的限制及对违反限制的电路进行修改的方法.
数字电路、可测性设计、扫描结构、设计规则
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TN407;TN43(微电子学、集成电路（IC）)
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
189-191,194
