10.3969/j.issn.1004-3365.2001.06.016
面向系统芯片的可测性设计
随着集成电路的规模不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要.回顾了一些常用的可测性设计技术,分别讨论了系统芯片(SOC)设计中的模块可测性设计和芯片可测性设计策略.
可测性设计、系统芯片、基于扫描设计、内建自测试、边缘扫描
31
TN602(电子元件、组件)
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
440-442
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10.3969/j.issn.1004-3365.2001.06.016
可测性设计、系统芯片、基于扫描设计、内建自测试、边缘扫描
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TN602(电子元件、组件)
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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