期刊专题

10.3969/j.issn.1004-3365.2001.04.001

SiC器件与电路的若干关键技术

引用
SiC器件可以稳定工作于高温、高频、强辐射条件下的能力已经得到证实。在许多应用领域和系统中,SiC已经成为进一步提高性能的理想材料。但是,在SiC器件及其电路的数量按比例增长并被融入电子系统之前,晶体生长和器件制造等技术必须得到进一步的发展。文章报道了SiC技术的最新进展情况。

碳化硅、化学气相淀积、半导体器件、集成电路

31

TN304.2+4(半导体技术)

国家自然科学基金69776023;教育部跨世纪优秀人才培养计划;国防科技预研基金

2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

233-238,251

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

微电子学

1004-3365

50-1090/TN

31

2001,31(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅