10.3969/j.issn.1004-3365.2001.02.015
电子元器件及电路的剂量率效应测试技术研究
介绍了半导体器件与电路的剂量率效应及其测试方法。主要分析了分立器件和集成电路的效应机理和建立的光电流测试系统及瞬时回避测试系统，给出了在晨光号加速器和DPF辐照装置上三极管及瞬时回避开关电路的辐照效应测量结果。
电子器件、辐射效应、剂量率效应、瞬时回避、光电流
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TN606(电子元件、组件)
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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