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10.3969/j.issn.1004-3365.2000.06.003

OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

引用
由于传统的组合电路测试方法,如D算法、PODEM算法和FAN算法等,在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯,因此严重地影响了算法的效率.而OBDD是一种表示和操纵布尔函数的有效方法,用OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数,可以把反向回溯过程转换为OBDD的satisfiability问题,从而避免了反向回溯过程,加快了故障测试的速度.同时,OBDD在测试矢量集的生成以及necessary assignment的确定中也显示出一定的优越性.

组合逻辑电路、故障检测、测试生成、OBDD

30

TN431.2(微电子学、集成电路(IC))

美国国家科学基金5978;East Asia and Pacific Program

2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

374-377,394

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

30

2000,30(6)

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