期刊专题

10.3969/j.issn.1004-3365.2000.03.015

时序系统的状态组区别序列测试方法

引用
介绍了采用单变迁故障模型的时序系统状态组区别序列测试方法,通过选择状态组区别序列优化测试序列长度.这种测试生成方法比时序电路门级测试生成快得多,而且能达到很高的故障覆盖率.

时序电路、测试生成、状态组区别序列

30

TN407(微电子学、集成电路(IC))

2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

188-192

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

微电子学

1004-3365

50-1090/TN

30

2000,30(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅