10.3969/j.issn.1004-9398.2007.05.006
基于遗传算法的逻辑电路测试生成的研究
本文提出了一种基于遗传算法的逻辑电路测试生成算法,利用遗传算法的全局寻优特点进行集成电路的测试生成,并与确定性算法进行了比较,所得到的实验结果表明,遗传算法可以在比较小的测试矢量集下得到比较高的故障覆盖率,是一个有效的测试生产算法.
遗传算法、测试生成、故障模拟.
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TP301.6(计算技术、计算机技术)
2007-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
22-25,29
