10.3969/j.issn.1672-9668.2019.13.009
电磁兼容中的测试与处理的相关技术分析
随着电气技术的飞速发展和电子设备的使用愈发频繁,进而就出现了各种电磁兼容问题,并迟迟得不到很好的解决,所以人们开始重视起了提高电子设备的电磁兼容性能和测试方法.电磁兼容技术主要包括了两个方面,一是电磁干扰技术,二是电磁抗干扰技术.在电磁干扰方面具有研究成本较高,且电磁干扰测量技术不够成熟等问题;在静电放电方面具有危害大,发生频繁,防护方法繁杂等问题,所以对于电磁兼容的研究和技术分析十分必要.本文就针对上述的问题展开研究,从电磁兼容中的干扰测量问题和电磁抗干扰中的静电放电问题着手,并给出理论分析和验证.
电磁兼容、GTEM小室、静电放电、测试与处理
2019-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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