10.14132/j.cnki.1673-5439.2020.04.005
一种改进的SRAM随机故障注入技术
针对传统静态随机存储器缺乏有效的故障注入这一技术问题,文中提出了一种基于阻抗性开路故障的随机故障注入技术.该技术针对阻抗性开路故障的故障机理特点以及其故障表现形式,使用Perl语言提取故障节点,在电路中随机选取多个节点并注入阻值随机电阻,使存储单元电路随机产生阻抗性开路故障.文中首先通过HSIM仿真验证了随机故障注入技术的随机性以及有效性,并基于该方法通过HSIM+ VCS混合仿真平台得到March C算法对阻抗性开路缺陷的故障覆盖率为87.8％.
SRAM、随机故障注入、阻抗性开路故障、故障覆盖率
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TN919.8
国家自然科学基金;江苏省高校自然科学研究;江苏省研究生科研与实践创新计划
2020-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
31-36
