10.14132/j.cnki.1673-5439.2018.06.005
一种高精度锁相环抖动测量电路设计
锁相环作为数字和模拟电路中不可或缺的基本电路单元,其性能的稳定性在电路工作过程中尤为重要.基于欠采样的抖动测量电路是目前锁相环片上测试领域的研究热点.文中针对目前抖动测量方案存在的测量精度低和测量成分单一的问题,基于欠采样测量原理,设计了一种高精度锁相环抖动测量电路,能够实现周期抖动和长周期抖动的测量.在SMIC40nm LL工艺条件下,完成前后仿真:针对多组测试数据,得出周期抖动测量平均误差是2.81％,长周期抖动测量的平均误差是3.67％,电路面积为2 448 μm2,功耗为0.37 mW,满足设计需求.
高精度、边沿对齐、周期抖动测量、长周期抖动测量、欠采样
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TN919.8
国家自然科学基金61504065,61504061,61501261;江苏省自然科学基金BK20150848;南京邮电大学引进人才科研启动基金NY214157
2019-02-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共7页
29-35
