10.3969/j.issn.1001-4616.2018.04.016
X-射线粉末衍射K值法对不同厂家滑石粉的纯度考察
本文从定性和定量两个方面对4个厂家滑石粉的纯度进行了考察.首先通过X-射线粉末衍射法(PXRD)、扫描电子显微镜(SEM)和傅立叶变换红外光谱(FT-IR)对4个厂家的滑石粉进行了定性鉴定,然后利用X-射线粉末衍射K值法计算出待测样品中滑石粉[Mg3(Si4 O10)(OH)2]的百分含量,进而推算出Mg元素的百分含量.分析结果表明,4个厂家滑石粉含量均大于90％,Mg的百分含量在17.0％～19.5％,均符合中国药典的规定,其中D厂家滑石粉的纯度最高,质量更好,其余依次为C、A、B.本实验结果为生产企业根据实际需要选用滑石粉提供了参考数据.
滑石粉、X-射线粉末衍射法、定性分析、定量分析、K值法
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TG146(金属学与热处理)
江苏省大型科学仪器设备共享服务平台资助BZ201403
2019-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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