10.13648/j.cnki.issn1674-0629.2015.11.011
GIS盆式绝缘子表面自由金属颗粒缺陷导致局部放电的发展过程
局部放电是气体绝缘组合电器(GIS)内部绝缘损坏的外在表现.为了研究GIS局部放电的发展规律,在220 kVGIS实验腔体中设置了人工盆式绝缘子表面自由金属颗粒缺陷模型,采用阶梯升压法模拟了该缺陷下局部放电的不同发展阶段,以特高频法对各阶段局放信号进行了测量.基于测量结果,梳理了放电次数、平均放电幅值、总放电幅值、最大放电幅值等的变化规律,从而得出结论:盆式绝缘子表面自由金属颗粒缺陷下局部放电可分为放电初始阶段、放电发展阶段和放电危险阶段,且各放电阶段可用放电特征量及放电散点图的变化来表征.
气体绝缘组合电器(GIS)、盆式绝缘子、表面自由金属颗粒、局部放电
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TM85(高电压技术)
2016-03-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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