10.3969/j.issn.1004-7530.2015.05.016
基于STM32F103RBT6的集中抄表老化测试系统
传统集中抄表老化测试电路接线复杂，效率低，成本高。为了提高老化测试效率，文章介绍了一种基于STM32F103RBT6的集中抄表老化测试系统，包括总体电路设计，抄控器与上位机的通信，采集器与信号源的接口电路，及相应的指示、电源和复位电路，并给出了相应的软件流程和串口程序。该系统通过合理的老化流程、优化设备间的通信协议最终做到高效、实时地完成产品老化，在老化过程中实时准确地报出故障产品以便下架检修。现场应用验证了系统运行稳定，测试方便。
STM32F103RBT6、信号源、调试电路、串口通信
TP3;TM7
2015-04-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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