10.3969/j.issn.1000-386X.2007.01.009
一种基于电路精简的Memory特征参数提取方法
提出一种基于电路精简的Memory特征参数快速提取方法.该算法通过对互连线寄生RC参数和Memory非活动存储单元的电路精简,能够快速准确地进行深亚微米工艺下Memory特征参数提取.
电路精简、深亚微米、参数提取
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TP3(计算技术、计算机技术)
浙江省科技计划021107065
2007-03-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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30-31,34