10.3969/j.issn.1006-0871.2010.02.013
航天器电子元器件疲劳寿命分析
为研究空间环境效应对航天器电子设备元器件疲劳寿命的影响,应用Miner累积损伤理论及三带宽技术,根据表贴元器件经历的试验、发射和在轨运行等实际环境进行振动及热疲劳寿命分析.给出振动及热循环疲劳寿命的计算方法,并以某BGA(Ball Grid Array)器件为例进行分析.该方法可为长寿命、高可靠的航天器电子设备抗力学及热设计提供分析途径.
航天器电子元器件、振动、热循环、Miner累积损伤理论、三带宽技术、疲劳寿命因子
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V414.1;V423;TB115(基础理论及试验)
2010-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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