10.3321/j.issn:1000-1158.2003.04.019
精密LCR测试技术研究
介绍了一种L、C、R测试系统,可以在75 kHz～30 MHz频率范围内对元器件进行精密测量.阐述了测试系统中的关键技术:包括自动平衡电桥法阻抗测量技术、75 kHz～30 MHz频率合成源技术、自动电平控制技术、鉴相及矢量测量技术、A/D变换技术和四端对结构.研究了测试系统的误差来源及消除误差的方法,给出了系统的校准件的数学模型,并据此模型对系统的分布参量误差、频响误差等进行测量校准.最后给出了实验结果,系统的准确度为0.1%,被测件DUT上所加信号频率为75 kHz～30 MHz,以100 Hz步进,幅度在5 mV～2 V范围内连续可调.
计量学、阻抗测量、自动平衡电桥、电平控制、四端对
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TB973(计量学)
信息产业部电子科学院基金
2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
330-333
