10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2016.04.009
基于光子混频连续太赫兹波的厚度检测
为了将光子混频的连续太赫兹波透射成像系统应用于样品厚度检测中,采用该系统获得的相位信息对样品进行了2维厚度测量.利用两个外腔半导体结构的激光器搭建了基于光子混频的连续太赫兹波透射成像系统,并利用X-Y2维电动平移台放置样品进行点点扫描成像.该系统可同时获得样品的幅度信息和相位信息,在太赫兹波辐射频率0.47THz时,系统信噪比可达68dB.计算得出的厚度值与实际样品的厚度值最大相差0.02mm;另外还分析了平行平面样品干涉效应和样品不同透射强度对厚度测量的影响.结果表明,样品折射率越高,平行平面干涉效应对厚度测量影响越大;样品透射系数越大,测量精度也越高.当样品太赫兹波透射系数大于0.5时,厚度测量精度优于2.0%.
测量与计量、厚度测量、相位信息、光子混频、连续太赫兹波成像
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TN247(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金资助项目60576042,61377108
2016-07-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
496-499
