10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2016.04.003
紧凑型光谱薄膜测厚仪的研制
为了开发一种用于测量各向同性均匀薄膜介质厚度的紧凑型薄膜测厚仪,采用了共光路垂直入射设计,利用薄膜干涉原理,通过非线性优化算法对反射光谱进行了拟合,反演计算出了薄膜样品的厚度.采用该仪器测量部分SiO2/Si薄膜样件,测量结果与商业椭偏仪测量结果之间的相对偏差小于0.5%,而单次测量时间仅为70ms.结果表明,该薄膜测厚仪具有对测量距离不敏感、光路简洁、结构紧凑及重复性精度良好等优点,对实现在线实时测量功能具有积极意义.
测量与计量、光谱薄膜测厚仪、紧凑、逆问题、干涉、不确定度
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TN249(光电子技术、激光技术)
湖北省科技支撑计划资助项目2014BEC052;湖北省自然科学基金资助项目2015CFB278;国家重大科学仪器设备开发专项资助项目2011YQ160002
2016-07-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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