10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2016.01.029
傅里叶λ/4波片双折射检测方法
为了对液晶光学相控阵的相位调制量进行高分辨率、高精度的自动化测量,采用了傅里叶λ/4波片法,在常规λ/4波片法的基础上,结合离散傅里叶变换算法完成数据处理过程,获得更高的测试精度,并且对测试环境的振动、噪声具备更好的抑制能力. 实验中,利用微机控制步进电机、CCD等辅助设备,结合傅里叶λ/4波片法形成自动检测设备.结果表明,将标准λ/4波片作为测试样品,测试重复精度小于0.3°;将自行研制的液晶光学相控阵作为待测样品,获得了其近场的相位分布,可看到样品的相位周期性与电极间相位凹陷等情况.
激光技术、相位分布、傅里叶λ/4波片法、液晶光学相控阵
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O734+.2(晶体物理)
国家自然科学基金资助项目61405029;中央高校基本科研业务费资助项目ZYGX2013J126
2016-01-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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