10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.03.030
偏光干涉法测量液晶的双折射率
为了测量液晶双折射率，从偏光干涉的理论公式入手，通过一定的近似，采用偏光干涉法测量液晶双折射率，进行了理论分析和实验验证，获得了较为理想的数据。结果表明，在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时，避免了对透射光谱的绝对光强进行测量，使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。
测量与计量、液晶、电光效应、偏光干涉、双折射率
O436.3(光学)
2014-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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