10.3321/j.issn:0253-2468.2005.08.011
废轮胎回转窑中试热解炭中O、S、N、Zn的X射线光电子能谱(XPS)分析
应用X射线光电子能谱(XPS)对废轮胎回转窑中试热解炭(PCB)中O、S、N、Zn的化学形态进行分析.结果发现,热解炭本体中"双键氧/S-O"峰随热解温度升高不断增大,硫化物含量高,Zn和大部分N分别以ZnS和胺的形态仅存在于热解炭本体中;商用炭黑中不含硫化物、N及Zn,O主要以"双键氧/S-O"形态存在;热解炭表面吸附层中S以"S-C/R-S-S-R"形态存在,O的存在形态随热解温度的不同而改变,而450℃时热解不完全,表面吸附物很少;热解炭本体、表面吸附层及商用炭黑中均不含氧化物;热解炭粒径越小,O、S、N和Zn的存在形态越接近本体,表面吸附层的厚度大约为0.2mm,表面吸附层对热解炭整体的影响是有限的.
废轮胎、回转窑、热解炭、商用炭黑、XPS
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X705(一般性问题)
国家自然科学基金50076037
2005-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共8页
1058-1065
