10.3969/j.issn.0254-6086.2010.02.005
FCI结构及其电导率对MHD效应影响实验研究
实验研究了通道插件(FCI)压力平衡孔(PEH)和压力平衡狭缝(PES)结构、绝缘和非绝缘材质对磁流体动力学(MHD)效应的影响,结果表明:带PEH或PES、绝缘或非绝缘材质的FCI产生的流速分布有很大的差异;对MHD压降而言,FCI结构PEHs或PES差异的影响大于FCI绝缘或非绝缘材质差异引起的影响;对流速分布而则刚好相反.二次流引起的局部流速骤增的MHD效应(简称为S-MHD效应)对控制管道内流速分布和降低MHD压降有作用,这些实验结果为弄清FCI的MHD效应机制和液态金属包层设计提供了实验认知与有价值的参考.
液态包层、通道插件、S-MHD效应
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TL334(核反应堆工程)
国家自然科学基金资助项目10775042
2010-09-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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