10.3969/j.issn.1007-7375.2004.06.014
面向半导体制造业的统计过程分析与控制
传统的统计过程控制方法不能完全适应半导体制造业生产形式需要.本文在分析半导体光电封装制造模式的特点和实施过程控制所面临的问题的基础上,提出一种基于聚类分析的统计质量控制方法.通过实证分析,证实了该方法的可操作性并取得了良好的实际效果.
统计过程控制、聚类分析、休哈特控制图、方差分析、半导体制造
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C93(管理学)
2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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