10.3964/j.issn.1000-0593(2018)11-3593-05
精细X荧光光谱中伪峰剔除方法的研究
在高计数率背景下,采用数字慢三角成形处理算法的高性能硅漂移探测器X荧光光谱全能峰受到伪峰严重干扰.介绍了一种新型的剔除伪峰干扰的方法,详细阐述了该方法中数字三角形成形、信号甄别和伪峰判断等技术要点.以55Fe核素和岩石样品为实验对象,对比伪峰剔除前和剔除后得到的X荧光能谱,结果证明该方法能够较好地消除谱线图中的伪峰.因而,在精细X荧光能谱分析时,该方法能够提高能谱的峰背比和痕量元素的分析精确度.
精细X荧光、硅漂移探测器、伪峰剔除、信号甄别
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O433.4(光学)
国家重点研发计划课题2016YFC1402500;国家自然科学基金项目11675028
2018-12-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
3593-3597
