10.3964/j.issn.1000-0593(2012)12-3390-04
太赫兹时域光谱无损检测核桃品质的研究
以核桃为研究对象,探讨太赫兹时域光谱技术对其变质情况、壳厚测量的研究.首先对虫蛀、霉变、正常核桃壳、仁标样采集太赫兹时域光谱,比较分析变质与正常核桃谱图及吸收谱差异,为剔除变质核桃打下基础.其次联用透射和反射式太赫兹时域光谱系统,创建核桃壳计算公式,在获取核桃壳理论折射率基础上,换算得到未知核桃壳厚,相对误差为3.7％.分别从物理、化学指标光谱响应特征差异人手,实现太赫兹无损检测核桃品质.
太赫兹、核桃、变质、壳厚
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TN247(光电子技术、激光技术)
国家重点基础研究发展计划973计划项目2007CB310408
2013-01-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
3390-3393
