10.3964/j.issn.1000-0593(2012)04-1142-03
基于椭偏光谱仪的石英晶体1310nm处双折射率的精密测量
为了对石英晶体在通讯波段1 310 nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密测量晶体双折射率的方法,并在室温(22℃)下对通讯波段1 310 nm处石英晶体的双折射率进行了精密测量,测量结果和对误差的分析显示,此方法给出的双折射率测量值的精度高达10-6量级,为目前可查阅的最高精度,对于提高石英晶体相位延迟器件的设计精度具有重要的意义.
晶体光学、双折射率、椭偏光谱仪、石英、1310 nm
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O439(光学)
国家自然科学基金项目60976015;山东省自然科学基金项目ZR2009GL010;浙江省科技厅分析测试科技计划项目2011C37046
2012-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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