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10.3964/j.issn.1000-0593(2010)02-0504-04

倾斜式生长ZnS纳米柱状薄膜及其透射性能的研究

引用
采用倾斜式生长的方法,在本底真空为3×10~(-4) Pa,生长率为0.2 nm·s~(-1)的条件下,通过改变衬底的法线方向与入射粒子流的夹角α,在ITO导电玻璃衬底上制备了ZnS纳米薄膜.在α=80°和85°时,样品的X射线衍射谱证实了不同倾斜角时所制备薄膜中均有纳米ZnS晶体形成,扫描电子显微镜(SEM)图像显示,所形成的薄膜均呈现出了柱状结构,并且倾斜角为85°时所得到的纳米柱直径大于80°时所得结果;在α=0°时,相应测量结果表明,虽然在不同衬底七也形成了纳米ZnS晶体薄膜,但并未见柱状结构,而是形成了一层均匀且致密的薄膜.对两种薄膜结构的生长动力学过程作了分析.ITO衬底上薄膜的透射光谱表明ZnS柱状薄膜能够提高可见光的透过率,因此对柱状ZnS纳米薄膜的研究将有利于提高电致发光器件的发光效率.

倾斜式生长、柱状ZnS纳米薄膜、透射光谱

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O484.4(固体物理学)

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2010-04-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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