10.3964/j.issn.1000-0593.2008.08.042
同步荧光光谱比率法检测过氧亚硝酸根及其清除剂的研究
利用同步荧光光谱建立了一种新的荧光比率法检测过氧亚硝酸根(ONOO-)及评价其清除剂的方法.酪氨酸自身有荧光,在pH 8.5的磷酸缓冲溶液中,酪氨酸与CO2和ONO-反应生成强荧光的酪氨酸二聚体,利用同步荧光光谱技术,在荧光发射光谱中能同时获得酪氨酸单体(λem=364 nm)与二聚体的荧光峰(λem=406 nm),且两峰的荧光强度的比值与ONOO-的浓度呈计量相关.结果表明荧光强度的比值不受实验参数改变的影响,与传统的荧光法相比,有利于扩大检测的线性范围,提高灵敏度.荧光强度的比值与ONOO-的浓度在1.60X10-7 mol·L-1～6.00X10-4 mol·L-1范围内呈线性关系,线性相关系数为0.999,检测限为1.84×10-8 mol·L-1.对浓度为1.00X10-6 mol·L-1 ONOO-平行测定8次,其相对标准偏差为2.4%.利用该法测得抗癌药米托蒽醌的ICso为0.065μg·mL-1.方法简便易行,试剂廉价易得,体系稳定,可作为一种检测ONOO-及筛选其清除剂的方法.
同步荧光、比率法、过氧亚硝酸根
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O657.3(分析化学)
国家自然科学基金项目20375032
2008-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
1875-1878
