10.3964/j.issn.1000-0593.2007.09.055
X射线TICT在复合材料工件检测中的射束硬化拟合校正研究
X射线TICT中,X射线透射物质时,发生了能谱硬化现象.使图像重建时出现伪影.因此必须进行修正.文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了X射线TICT在检测复合材料工件中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,首先拟合出射束和与透射厚度的关系式,然后推导出X射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法,最终得出X射线TICT在检测复合材料工件中X射线等效单色射线的衰减系数的射束硬化拟合值,再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线TICT在检测复合材料工件中射束硬化造成的影响.
X射线、透射式工业计算机断层扫描成像技术、射束硬化、拟合校正、射束和、复合材料
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O434.1;TP391(光学)
科技部火炬计划;湖南省重点建设学科-光学基金;湖南省教育厅科研项目06C606
2007-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
1882-1885
