期刊专题

10.3321/j.issn:1000-0593.2000.01.025

因子分析在X射线荧光光谱重叠谱峰识别中的应用

引用
用渐进因子分析(EFA)方法处理合金样品的X射线荧光扫描谱数据,按照数学原理选取扫描步长,根据XRF特性选择合适的训练集建立数学模型,可以准确判断谱峰重叠,该方法在合理取点和组分含量相当的情况下有良好的识别能力.

渐进因子分析、X射线荧光光谱、重叠谱识别

20

O6(化学)

国家自然科学基金29875004

2007-03-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

91-94

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光谱学与光谱分析

1000-0593

11-2200/O4

20

2000,20(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅