10.19453/j.cnki.1005-488x.2019.02.011
车载TFT LCD器件高温信赖性串扰机理及改善研究
研究了车载液晶显示器可靠性试验中高温串扰的相关影响因子,通过实验发现TFT沟道N+台阶越大,高温串扰表现越差,通过增加工艺中灰化时间可以改善沟道台阶问题.同时栅极绝缘层的厚度也会对可靠性评价中的高温串扰产生影响.并且通过DOE实验确定可靠性串扰的显著影响因子为沟道N+台阶和栅绝缘层厚度.
车载、液晶显示器、高温、串扰
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TN27(光电子技术、激光技术)
2019-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
123-126
