10.3969/j.issn.1004-4957.2009.03.025
介孔材料的小角度X射线衍射实验条件研究
对有序结构的介孔材料进行小角度X射线衍射测试,结果表明:通过调整X射线衍射仪的光路系统,控制入射X射线和散射光的强度与覆盖范围,在常规实验条件下不能获得小角度衍射数据的样品,也可获得清晰的小角衍射数据.对于岛津XRD7000型衍射仪,合适的狭缝系统为:发散狭缝0.1°,防散射狭缝0.1°,接收狭缝0.15 mm.测量条件为工作电压40 kV、工作电流40 mA,连续扫描方式,步长0.02°,扫描速率0.5°/min.介孔X衍射图谱主要在1°～2°出现衍射峰,一些0.6°～0.9°的峰可能由仪器设置、样品制备不当所致.
介孔材料、小角度衍射、X射线衍射、狭缝系统
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O722(X射线晶体学)
北京工业大学博士科研启动基金资助项目52009999200705
2009-05-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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365-367,371
