10.3969/j.issn.1004-4957.2009.03.017
掠入射X射线衍射方法对α相聚辛基芴(PFO)薄膜结晶性的分析
采用掠入射X射线衍射方法对α相均聚辛基芴(PFO)薄膜的结晶性进行了表征,并探讨了不同仪器构型对实验结果的影响.结果表明,与常规X射线衍射方法相比,掠入射X射线衍射可以消除或减小基底的干扰并增大薄膜的衍射信号,能明显地测量出α相PFO薄膜的各衍射峰.采用较大狭缝的测试系统得到的信号较大,但是仪器的宽化因子也随之增大,通过比较发现利用Scherrer公式计算微晶尺寸时求解真实宽化因子使用公式B2-b2较好.
掠入射X射线衍射、聚芴薄膜、结晶性、α相聚辛基芴
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TG115.22;O484.1(金属学与热处理)
国家自然科学基金委青年基金资助项目50803065;中科院长春应用化学研究所回国人员科研启动基金;中科院长春应用化学研究所知识创新自由探索项目CX07QZJS-10;高分子物理与化学国家重点实验室开发基金
2009-05-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
333-336
