基于Halcon的圆形陶瓷片表面缺陷检测方法
针对圆形陶瓷片的产品特性以及厂家检测的需要,设计了一种基于Halcon平台的表面缺陷分区检测算法.通过前期预处理中的灰度化、图像增强处理以及ROI的选取后,再针对不同缺陷分别采用阈值分割、极坐标转换及边缘提取等方法获取产品缺陷区域并进行检测.实验结果证明本检测算法具有较高的准确性,并能较好地满足实际检测要求.
缺陷检测、Halcon、阈值分割、边缘提取
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TP391.41;TQ174(计算技术、计算机技术)
广东省普通高校科研资助项目2019KZDZX1034
2021-04-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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